دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 135465
ترجمه فارسی عنوان مقاله

تشخیص کراک در سلول های خورشیدی سیلیکون بلوری با استفاده از تصویربرداری تاریک میدان

عنوان انگلیسی
Crack detection in crystalline silicon solar cells using dark-field imaging
کد مقاله سال انتشار تعداد صفحات مقاله انگلیسی ترجمه فارسی
135465 2017 6 صفحه PDF سفارش دهید
دانلود فوری مقاله + سفارش ترجمه

نسخه انگلیسی مقاله همین الان قابل دانلود است.

هزینه ترجمه مقاله بر اساس تعداد کلمات مقاله انگلیسی محاسبه می شود.

این مقاله تقریباً شامل 3557 کلمه می باشد.

هزینه ترجمه مقاله توسط مترجمان با تجربه، طبق جدول زیر محاسبه می شود:

شرح تعرفه ترجمه زمان تحویل جمع هزینه
ترجمه تخصصی - سرعت عادی هر کلمه 12 تومان 9 روز بعد از پرداخت 42,684 تومان
ترجمه تخصصی - سرعت فوری هر کلمه 24 تومان 5 روز بعد از پرداخت 85,368 تومان
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : Energy Procedia, Volume 124, September 2017, Pages 526-531

پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله تشخیص کراک در سلول های خورشیدی سیلیکون بلوری با استفاده از تصویربرداری تاریک میدان

چکیده انگلیسی

The high capital expenditure (capex) necessary to manufacture crystalline silicon PV modules negatively affects the levelized cost of electricity (¢/kWh) and critically impacts the rate at which the PV industry can scale up. Wafer, cell, and module fabrication with thin free-standing silicon wafers is one key to reduce capex. Thin wafers reduce capex associated with silicon refining and wafer fabrication, which together sum to 58% of the total capex of silicon module manufacturing. In addition, thin wafers directly and significantly reduce variable costs. However, introducing 50 μm thin free-standing wafers into today’s manufacturing lines result in cracking, creating a yield-based disincentive. Due to the brittle nature of silicon, wafer breakage is the major concern due to the high stress that is induced during processes in manufacturing lines. In this paper, we describe an improved method for edge micro-crack detection that can help enable low-capex, thin free-standing Si wafers. We present a method of detecting and measuring cracks along wafer edges by using a dark-field IR scattering imaging technique which enables detection of edge cracks at the micron scale.

دانلود فوری مقاله + سفارش ترجمه

نسخه انگلیسی مقاله همین الان قابل دانلود است.

هزینه ترجمه مقاله بر اساس تعداد کلمات مقاله انگلیسی محاسبه می شود.

این مقاله شامل 3557 کلمه می باشد.

هزینه ترجمه مقاله توسط مترجمان با تجربه، طبق جدول زیر محاسبه می شود:

شرح تعرفه ترجمه زمان تحویل جمع هزینه
ترجمه تخصصی - سرعت عادی هر کلمه 12 تومان 9 روز بعد از پرداخت 42,684 تومان
ترجمه تخصصی - سرعت فوری هر کلمه 24 تومان 5 روز بعد از پرداخت 85,368 تومان
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.