دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 45348
عنوان فارسی مقاله

تجزیه و تحلیل اقتصادی از سیستم معاینه معوق: شواهدی از یک اصلاح سیاست در ژاپن

کد مقاله سال انتشار مقاله انگلیسی ترجمه فارسی تعداد کلمات
45348 2015 10 صفحه PDF سفارش دهید محاسبه نشده
خرید مقاله
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.
عنوان انگلیسی
An economic analysis of deferred examination system: Evidence from a policy reform in Japan ☆
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : International Journal of Industrial Organization, Volume 39, March 2015, Pages 19–28

کلمات کلیدی
ثبت اختراع - آزمون - ارزش گزینه - تحقیق و توسعه
پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله تجزیه و تحلیل اقتصادی از سیستم معاینه معوق: شواهدی از یک اصلاح سیاست در ژاپن

چکیده انگلیسی

We investigate how a deferred patent examination system promotes ex-ante screening of patent applications, which reduces both the number of granted patents and the use of economic resources for examinations, without reducing the return from R&D. Based on a real option theory, we develop a model of examination request behaviors. Exploiting the responses of Japanese firms to recent policy reform, we find that the shortening of the allowable period for an examination request significantly increases both eventual and early requests, controlling for the blocking use of a pending patent application. This effect is stronger in technology areas with higher uncertainty. These results support the importance of uncertainty for an applicant and of ex-ante screening.

خرید مقاله
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.