دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 56026
عنوان فارسی مقاله

طراحی لچ اشعه سخت با هزینه پایین و بسیار قابل اعتماد در تکنولوژی CMOS با 65 نانومتر

کد مقاله سال انتشار مقاله انگلیسی ترجمه فارسی تعداد کلمات
56026 2015 10 صفحه PDF سفارش دهید محاسبه نشده
خرید مقاله
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.
عنوان انگلیسی
Low cost and highly reliable radiation hardened latch design in 65 nm CMOS technology ☆
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : Microelectronics Reliability, Volume 55, Issue 6, May 2015, Pages 863–872

کلمات کلیدی
طراحی لچ؛ هزینه پایین ؛ تکنولوژی CMOS
پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله طراحی لچ اشعه سخت با هزینه پایین و بسیار قابل اعتماد در تکنولوژی CMOS با 65 نانومتر

چکیده انگلیسی

As a consequence of technology scaling down, gate capacitances and stored charge in sensitive nodes are decreasing rapidly, which makes CMOS circuits more vulnerable to radiation induced soft errors. In this paper, a low cost and highly reliable radiation hardened latch is proposed using 65 nm CMOS commercial technology. The proposed latch can fully tolerate the single event upset (SEU) when particles strike on any one of its single node. Furthermore, it can efficiently mask the input single event transient (SET). A set of HSPICE post-layout simulations are done to evaluate the proposed latch circuit and previous latch circuits designed in the literatures, and the comparison results among the latches of type 4 show that the proposed latch reduces at least 39% power consumption and 67.6% power delay product. Moreover, the proposed latch has a second lowest area overhead and a comparable ability of the single event multiple upsets (SEMUs) tolerance among the latches of type 4. Finally, the impacts of process, supply voltage and temperature variations on our proposed latch and previous latches are investigated.

خرید مقاله
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.