دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 56036
ترجمه فارسی عنوان مقاله

صلاحیت تکنولوژی HKMG CMOS : اعتبار چالش PBTI

عنوان انگلیسی
HKMG CMOS technology qualification: The PBTI reliability challenge
کد مقاله سال انتشار تعداد صفحات مقاله انگلیسی ترجمه فارسی
56036 2014 11 صفحه PDF سفارش دهید
دانلود فوری مقاله + سفارش ترجمه

نسخه انگلیسی مقاله همین الان قابل دانلود است.

هزینه ترجمه مقاله بر اساس تعداد کلمات مقاله انگلیسی محاسبه می شود.

این مقاله تقریباً شامل 8993 کلمه می باشد.

هزینه ترجمه مقاله توسط مترجمان با تجربه، طبق جدول زیر محاسبه می شود:

شرح تعرفه ترجمه زمان تحویل جمع هزینه
ترجمه تخصصی - سرعت عادی هر کلمه 12 تومان 13 روز بعد از پرداخت 107,916 تومان
ترجمه تخصصی - سرعت فوری هر کلمه 24 تومان 7 روز بعد از پرداخت 215,832 تومان
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : Microelectronics Reliability, Volume 54, Issue 8, August 2014, Pages 1489–1499

ترجمه کلمات کلیدی
PBTI؛ با K بالا؛ صلاحیت؛ HfO2؛ بی ثباتی ولتاژ آستانه
کلمات کلیدی انگلیسی
PBTI; High-k; Qualification; Charge trapping; HfO2; Threshold voltage instability
پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله صلاحیت تکنولوژی HKMG CMOS : اعتبار چالش PBTI

چکیده انگلیسی

We present a brief overview of Positive Bias Temperature Instability (PBTI) commonly observed in n-channel MOSFETs with SiO2/HfO2/TiN dual-layer gate stacks when stressed with positive gate voltage at elevated temperatures. We review the origin and present understanding of the characteristics of oxide traps that are responsible for the complex behavior of threshold voltage stability. We discuss the various physical mechanisms that are believed to govern the transient charging and discharging of these traps as the backbone of the models that have been proposed for PBTI degradation and recovery. Next we review the state-of-the-art in PBTI characterization and we present some of the key stress results on both the device as well the circuit level. Special emphasis is given on the open PBTI issues that need to be carefully addressed for a robust reliability methodology that accurately predicts PBTI lifetimes. Finally we mention some of the gate stack scaling effects on PBTI.

دانلود فوری مقاله + سفارش ترجمه

نسخه انگلیسی مقاله همین الان قابل دانلود است.

هزینه ترجمه مقاله بر اساس تعداد کلمات مقاله انگلیسی محاسبه می شود.

این مقاله شامل 8993 کلمه می باشد.

هزینه ترجمه مقاله توسط مترجمان با تجربه، طبق جدول زیر محاسبه می شود:

شرح تعرفه ترجمه زمان تحویل جمع هزینه
ترجمه تخصصی - سرعت عادی هر کلمه 12 تومان 13 روز بعد از پرداخت 107,916 تومان
ترجمه تخصصی - سرعت فوری هر کلمه 24 تومان 7 روز بعد از پرداخت 215,832 تومان
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.