دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 56110
عنوان فارسی مقاله

اثرات تداخل در ICS مخلوط سیگنال در تکنولوژی CMOS دیجیتالی ساب میکرون عمیق

کد مقاله سال انتشار مقاله انگلیسی ترجمه فارسی تعداد کلمات
56110 2000 12 صفحه PDF سفارش دهید محاسبه نشده
خرید مقاله
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.
عنوان انگلیسی
Crosstalk effects in mixed-signal ICs in deep submicron digital CMOS technology
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : Microelectronics Journal, Volume 31, Issues 11–12, December 2000, Pages 893–904

کلمات کلیدی
مدارات آنالوگ/دیجیتال - پدیده تداخل - روش مدل سازی
پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله اثرات تداخل در ICS مخلوط سیگنال در  تکنولوژی CMOS دیجیتالی ساب میکرون عمیق

چکیده انگلیسی

This paper illustrates the crosstalk phenomenon and its impact on the design of mixed analog/digital circuits with high accuracy specifications. Generation of digital disturbs, propagation through the substrate, and effects on analog devices are considered, with particular emphasis on integrated circuits realized on heavily doped substrate, where traditional shielding is less effective. Techniques to reduce analog/digital crosstalk are reviewed and discussed. A simple modeling approach is presented, suitable for the analysis of crosstalk effects using a conventional electrical simulator (SPICE). Experimental results on a test chip are presented to validate the modeling approach.

خرید مقاله
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.