دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 56114
عنوان فارسی مقاله

رشد لایه های اکسید لانتانیم برای استفاده به عنوان یک دیالکتریک گیت در تکنولوژی CMOS

کد مقاله سال انتشار مقاله انگلیسی ترجمه فارسی تعداد کلمات
56114 2004 6 صفحه PDF سفارش دهید محاسبه نشده
خرید مقاله
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.
عنوان انگلیسی
Growth of lanthanum oxide films for application as a gate dielectric in CMOS technology
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : Materials Science in Semiconductor Processing, Volume 7, Issues 4–6, 2004, Pages 231–236

کلمات کلیدی
MOCVD؛ دی الکتریک بالا κ؛ اکسید لانتانیم؛ ساختار MOS
پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله رشد لایه های اکسید لانتانیم برای استفاده به عنوان یک دیالکتریک گیت در تکنولوژی CMOS

چکیده انگلیسی

We have investigated properties of insulating lanthanum oxide (La2O3) films in connection with the replacement of silicon oxide (SiO2) gate dielectrics in new generation of CMOS devices. The La2O3 layers were grown using metal organic chemical vapour deposition (MOCVD) at 500 °C. X-ray diffraction analysis revealed polycrystalline character of the films grown above 500 °C. The X-ray photoemission spectroscopy detected lanthanum carbonate as a principal impurity in the films and lanthanum silicate at the interface with silicon. Density of oxide charge, interface trap density, leakage currents and dielectric constant ( κκ) were extracted from the C-VC-V and I-VI-V measurements. Electrical properties, in particular dielectric constant of the MOCVD grown La2O3 are discussed with regard to the film preparation conditions. The as grown film had κ∼11κ∼11. Electrical measurements indicate possible presence of oxygen vacancies in oxide layer. The O2-annealed La2O3 film had κ∼17κ∼17.

خرید مقاله
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.