دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 45348
ترجمه فارسی عنوان مقاله

تجزیه و تحلیل اقتصادی از سیستم معاینه معوق: شواهدی از یک اصلاح سیاست در ژاپن

عنوان انگلیسی
An economic analysis of deferred examination system: Evidence from a policy reform in Japan ☆
کد مقاله سال انتشار تعداد صفحات مقاله انگلیسی
45348 2015 10 صفحه PDF
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : International Journal of Industrial Organization, Volume 39, March 2015, Pages 19–28

ترجمه کلمات کلیدی
ثبت اختراع - آزمون - ارزش گزینه - تحقیق و توسعه
کلمات کلیدی انگلیسی
Patent; Examination; Option value; R&DC41; L21; O34
پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله  تجزیه و تحلیل اقتصادی از سیستم معاینه معوق: شواهدی از یک اصلاح سیاست در ژاپن

چکیده انگلیسی

We investigate how a deferred patent examination system promotes ex-ante screening of patent applications, which reduces both the number of granted patents and the use of economic resources for examinations, without reducing the return from R&D. Based on a real option theory, we develop a model of examination request behaviors. Exploiting the responses of Japanese firms to recent policy reform, we find that the shortening of the allowable period for an examination request significantly increases both eventual and early requests, controlling for the blocking use of a pending patent application. This effect is stronger in technology areas with higher uncertainty. These results support the importance of uncertainty for an applicant and of ex-ante screening.