عنوان انگلیسی
Spectroscopic imaging ellipsometry of self-assembled SiGe/Si nanostructures
| کد مقاله | سال انتشار | تعداد صفحات مقاله انگلیسی |
|---|---|---|
| 112827 | 2017 | 26 صفحه PDF |
منبع
Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)
Journal : Applied Surface Science, Volume 421, Part B, 1 November 2017, Pages 547-552
پیش نمایش مقاله
