عنوان انگلیسی
Microstructure influenced variation in the local surface electrical heterogeneity in thickening Al-doped ZnO films: Evidence using both scanning tunnelling spectroscope and conductive atomic force microscope
کد مقاله | سال انتشار | تعداد صفحات مقاله انگلیسی |
---|---|---|
144812 | 2018 | 10 صفحه PDF |
منبع
Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)
Journal : Materials Science in Semiconductor Processing, Volume 75, 1 March 2018, Pages 65-74