عنوان انگلیسی
Single Event Upset rate determination for 65Â nm SRAM bit-cell in LEO radiation environments
کد مقاله | سال انتشار | تعداد صفحات مقاله انگلیسی |
---|---|---|
140684 | 2017 | 6 صفحه PDF |
منبع
Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)
Journal : Microelectronics Reliability, Volume 78, November 2017, Pages 11-16