دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 158588
ترجمه فارسی عنوان مقاله

استنتاج بیزی برای نیمه هادی معدن تولید داده های بزرگ برای افزایش عملکرد و تولید هوشمند برای تقویت صنعت 4.0

عنوان انگلیسی
Bayesian inference for mining semiconductor manufacturing big data for yield enhancement and smart production to empower industry 4.0
کد مقاله سال انتشار تعداد صفحات مقاله انگلیسی
158588 2017 10 صفحه PDF
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : Applied Soft Computing, Available online 26 November 2017

ترجمه کلمات کلیدی
رویکرد بیزی، تولید نیمه هادی، چند ستون افزایش عملکرد، تجزیه و تحلیل داده های بزرگ، تولید هوشمند،
کلمات کلیدی انگلیسی
Bayesian approach; Semiconductor manufacturing; Multi-collinearity; Yield enhancement; Big data analytics; Smart production;
پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله  استنتاج بیزی برای نیمه هادی معدن تولید داده های بزرگ برای افزایش عملکرد و تولید هوشمند برای تقویت صنعت 4.0

چکیده انگلیسی

Bayesian inference integrating Gibbs sampling and Cohen’s kappa coefficient is developed for analyzing semiconductor big data for yield enhancement and smart production in real settings.