ترجمه فارسی عنوان مقاله
بررسی تاثیر الکتروگرگازی بر عملکرد و قابلیت اطمینان مدارهای مجتمع در سطح طراحی
عنوان انگلیسی
Study of the impact of electromigration on integrated circuit performance and reliability at design level
کد مقاله | سال انتشار | تعداد صفحات مقاله انگلیسی |
---|---|---|
145698 | 2017 | 6 صفحه PDF |
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)
Journal : Microelectronics Reliability, Volumes 76â77, September 2017, Pages 75-80
ترجمه کلمات کلیدی
اتصال الکترو مهاجرت، قابلیت اطمینان، عملکرد مدار،
کلمات کلیدی انگلیسی
Interconnect; Electromigration; Reliability; Circuit performance;