دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 155310
ترجمه فارسی عنوان مقاله

اثر تنش اختلال در ترانزیستور های نازک آلومینیومی آلی قابل بازیافت: شواهد ناشی از انتشار ناشی از میدان از یون های اینترفیس

عنوان انگلیسی
Bias stress effect in solution-processed organic thin-film transistors: Evidence of field-induced emission from interfacial ions
کد مقاله سال انتشار تعداد صفحات مقاله انگلیسی
155310 2017 9 صفحه PDF
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : Organic Electronics, Volume 51, December 2017, Pages 128-136

پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله  اثر تنش اختلال در ترانزیستور های نازک آلومینیومی آلی قابل بازیافت: شواهد ناشی از انتشار ناشی از میدان از یون های اینترفیس

چکیده انگلیسی

Download high-res image (271KB)Download full-size image