دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 118582
ترجمه فارسی عنوان مقاله

رفتار آرامش کششی پیچشی سیم مسی میکروسکوپ

عنوان انگلیسی
Torsional stress relaxation behavior of microscale copper wire
کد مقاله سال انتشار تعداد صفحات مقاله انگلیسی
118582 2017 14 صفحه PDF
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : Materials Science and Engineering: A, Volume 698, 20 June 2017, Pages 277-281

ترجمه کلمات کلیدی
آرامش استرس، پیچ خوردگی سیم مسی میکروالکترونیک، حجم فعال سازی، صلیب لغزش،
کلمات کلیدی انگلیسی
Stress relaxation; Torsion; Microscale copper wires; Activation volume; Cross-slip;
پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله  رفتار آرامش کششی پیچشی سیم مسی میکروسکوپ

چکیده انگلیسی

Torsional stress relaxation behavior of copper wire with a diameter of 50 µm and grain size of 3.7 µm is experimentally investigated at room temperature. It is revealed that the stress relaxation occurs in both elastic and plastic regions. An elevated stress drop and a reduced apparent activation volume with increasing initial stress levels are also found in both elastic and plastic regions. Extremums of stress drop and activation volume are observed around the elastic limit. Meanwhile, high strain rate and rapidly exhaustive mobile dislocation density are observed. Finally, the cross-slip is considered to be the operating mechanism.