دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 58364
ترجمه فارسی عنوان مقاله

پردازش سطح وفور سنسورهای فشار با مقاومت بیش از حد؟

عنوان انگلیسی
Wafer Level Processing of Overload-Resistant Pressure Sensors ☆
کد مقاله سال انتشار تعداد صفحات مقاله انگلیسی
58364 2012 4 صفحه PDF
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : Procedia Engineering, Volume 47, 2012, Pages 615–618

ترجمه کلمات کلیدی
فشار دیفرانسیل بیش از حد مقاوم، محدود کننده انحراف
کلمات کلیدی انگلیسی
Differential pressure; Overload-Resistant; Deflection limiter

چکیده انگلیسی

Thermal treated Glass wafers are processed to develop overload protected sensors at the chip level [1,2]. By varying the process environment, the crystal growth in SCHOTT Borofloat 33̈ tested by x-ray crystallography and AFM analysis is reduced [3]. Without additional passivation layers the risk of chemical reactions with the glass wafer is avoided and no process steps for coating and removing are required. The glass wafers surface quality is suitable for anodic bonding.