دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 56122
ترجمه فارسی عنوان مقاله

تحلیل نشت کامل تراشه برای فن آوری CMOS شصت و پنج نانومتری و فراتر از آن

عنوان انگلیسی
Full-chip leakage analysis for 65 nm CMOS technology and beyond
کد مقاله سال انتشار تعداد صفحات مقاله انگلیسی ترجمه فارسی
56122 2010 12 صفحه PDF سفارش دهید
دانلود فوری مقاله + سفارش ترجمه

نسخه انگلیسی مقاله همین الان قابل دانلود است.

هزینه ترجمه مقاله بر اساس تعداد کلمات مقاله انگلیسی محاسبه می شود.

این مقاله تقریباً شامل 9148 کلمه می باشد.

هزینه ترجمه مقاله توسط مترجمان با تجربه، طبق جدول زیر محاسبه می شود:

شرح تعرفه ترجمه زمان تحویل جمع هزینه
ترجمه تخصصی - سرعت عادی هر کلمه 55 تومان 13 روز بعد از پرداخت 503,140 تومان
ترجمه تخصصی - سرعت فوری هر کلمه 110 تومان 7 روز بعد از پرداخت 1,006,280 تومان
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.
تولید محتوا برای سایت شما
پایگاه ISIArticles آمادگی دارد با همکاری مجموعه «شهر محتوا» با بهره گیری از منابع معتبر علمی، برای کتاب، سایت، وبلاگ، نشریه و سایر رسانه های شما، به زبان فارسی «تولید محتوا» نماید.
  • تولید محتوا با مقالات ISI برای سایت یا وبلاگ شما
  • تولید محتوا با مقالات ISI برای کتاب شما
  • تولید محتوا با مقالات ISI برای نشریه یا رسانه شما
  • و...

پیشنهاد می کنیم کیفیت محتوای سایت خود را با استفاده از منابع علمی، افزایش دهید.

سفارش تولید محتوا کد تخفیف 10 درصدی: isiArticles
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : Integration, the VLSI Journal, Volume 43, Issue 4, September 2010, Pages 353–364

ترجمه کلمات کلیدی
تحلیل آماری؛ مدل سازی نشت - تنوع روند - توزیع نشت کامل تراشه
کلمات کلیدی انگلیسی
Statistical analysis; Leakage modeling; Process variation; Full-chip leakage distribution
پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله تحلیل نشت کامل تراشه برای فن آوری CMOS شصت و پنج نانومتری و فراتر از آن

چکیده انگلیسی

This work proposes a full-chip leakage analysis framework for 65 nm technology and beyond. Analytical models are first constructed to capture the impact of process parameters on leakage current. Then a methodology is introduced to characterize leakage-related process variations in a systematic manner. On such a basis, an efficient procedure is developed to analyze the state-dependent power dissipation due to leakage of a large circuit block by taking into account different leakage mechanisms. Unlike many traditional approaches that rely on log-normal approximations, the proposed algorithm applies a quadratic model of the logarithm for the full-chip leakage current. It is able to handle both Gaussian and non-Gaussian parameter distributions. The model is validated with test chips manufactured with a commercial 65 nm CMOS process. Validation results prove that the proposed modeling methodology could achieve a higher accuracy than that from existing methods. Moreover, a full-chip leakage analysis using the developed model can be orders of magnitude faster than a Monte Carlo based approach.

دانلود فوری مقاله + سفارش ترجمه

نسخه انگلیسی مقاله همین الان قابل دانلود است.

هزینه ترجمه مقاله بر اساس تعداد کلمات مقاله انگلیسی محاسبه می شود.

این مقاله شامل 9148 کلمه می باشد.

هزینه ترجمه مقاله توسط مترجمان با تجربه، طبق جدول زیر محاسبه می شود:

شرح تعرفه ترجمه زمان تحویل جمع هزینه
ترجمه تخصصی - سرعت عادی هر کلمه 55 تومان 13 روز بعد از پرداخت 503,140 تومان
ترجمه تخصصی - سرعت فوری هر کلمه 110 تومان 7 روز بعد از پرداخت 1,006,280 تومان
پس از پرداخت، فوراً می توانید مقاله را دانلود فرمایید.