ترجمه فارسی عنوان مقاله
تکرار و کنترل کیفیت بعدی از سطوح های صنعتی مقیاس نانو با استفاده از اندازه گیری کالیبراسیون AFM و SEM پردازش تصویر
عنوان انگلیسی
Replication and dimensional quality control of industrial nanoscale surfaces using calibrated AFM measurements and SEM image processing
کد مقاله | سال انتشار | تعداد صفحات مقاله انگلیسی |
---|---|---|
4791 | 2010 | 6 صفحه PDF |
منبع
Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)
Journal : CIRP Annals - Manufacturing Technology, Volume 59, Issue 1, 2010, Pages 563–568
ترجمه کلمات کلیدی
علم اوزان ومقادیر - میکروسکوپ نیروی اتمی - سطح نانو ساختار
کلمات کلیدی انگلیسی