دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 95845
ترجمه فارسی عنوان مقاله

بررسی شبیه سازی فرایند تخریب ماژول های فتوولتائیک

عنوان انگلیسی
Simulation study on the degradation process of photovoltaic modules
کد مقاله سال انتشار تعداد صفحات مقاله انگلیسی
95845 2018 8 صفحه PDF
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : Energy Conversion and Management, Volume 165, 1 June 2018, Pages 236-243

ترجمه کلمات کلیدی
عوامل پیری، تخریب عملکرد، ماژول فتوولتائیک، شبیه سازی،
کلمات کلیدی انگلیسی
Aging factors; Performance degradation; Photovoltaic modules; Simulation;
ترجمه چکیده
تخریب ظرفیت تحویل فتوولتائیک در طول زمان را کاهش می دهد. مطالعات در مورد تخریب فتوولتائیک معمولا بر اساس تست های شتاب دهنده یا تست های ثبت شده که وقت گیر هستند و نیاز به تلاش زیادی دارند. در این مقاله، فرآیند تخریب ماژول های فتوولتائیک با استفاده از مطالعات شبیه سازی انجام شده است. یک مدل مبتنی بر مدار برای توصیف ویژگی های فتوولتائیک به شرایط محیطی و عوامل پیرامون ماژول های فتوولتائیک استفاده می شود. تجزیه و تحلیل هر عامل پیری نشان می دهد که کاهش جریان جریان کوتاه، دلیل اصلی از دست دادن قدرت، عمدتا ناشی از تخریب نوری است. کاهش فاکتور پر شدن عمدتا به علت کاهش مقاومت در برابر انگل، خروجی قدرت را بدتر می کند. تجزیه و تحلیل آماری پارامترهای مشخصه فتوولتائیک بر اساس تعداد زیادی از ماژول های فتوولتائیک با تکنولوژی مشابه نشان می دهد که فرایند تخریب می تواند بسته به الگوهای تخریب عوامل پیری بسیار پیچیده باشد. به طور کلی، از دست دادن قدرت به افزایش می رسد و عدم انطباق در ماژول فتوولتائیک در طول زمان قابل توجه است.
پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله  بررسی شبیه سازی فرایند تخریب ماژول های فتوولتائیک

چکیده انگلیسی

Degradation decreases photovoltaic power delivery capacity over time. Studies on photovoltaic degradation are usually based on accelerated tests or filed tests which are time-consuming and require much effort. This paper investigates the degradation process of photovoltaic modules by simulation studies. A circuit-based model is employed to describe photovoltaic characteristics to environmental conditions and to the aging factors of photovoltaic modules. Analysis of each aging factor shows that the decrease of short-circuit current, the main reason of power loss, is mainly caused by optical degradation. The decay of fill factor mainly due to degradation of parasitic resistances worsens the power output. The statistical analysis of photovoltaic characteristic parameters based on a great number of photovoltaic modules with the same technology indicates that the degradation process can be very complicated depending on the degradation patterns of aging factors. Generally, the power loss tends to increase and the mismatch among photovoltaic modules becomes more remarkable through the time.