دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 108211
ترجمه فارسی عنوان مقاله

تطبیق محفظه نیمههادی هدایت نشده با توجه به مقایسه شکل

عنوان انگلیسی
Unsupervised Semiconductor chamber matching based on shape comparison
کد مقاله سال انتشار تعداد صفحات مقاله انگلیسی
108211 2017 6 صفحه PDF
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : IFAC-PapersOnLine, Volume 50, Issue 1, July 2017, Pages 3905-3910

ترجمه کلمات کلیدی
نظارت آماری، فرآیند نیمه هادی، تطبیق اتاق طبقه بندی بدون نظارت، مقایسه شکل،
کلمات کلیدی انگلیسی
statistical monitoring; semiconductor process; chamber matching; unsupervised classification; shape comparison;
ترجمه چکیده
این روش هر دو محفظه و سنسور را تشخیص می دهد که در آن گسل وجود دارد، و سپس کمک به فعال کردن تعمیرات اصلاحی. نتایج برنامه ها با دو نمونه از شکست های صنعتی نیمه هادی واقعی نشان داده شده است.
پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله  تطبیق محفظه نیمههادی هدایت نشده با توجه به مقایسه شکل

چکیده انگلیسی

The method detects both the chamber and the sensor in which the fault is present, then helping in activating corrective maintenances. Application results are shown with two examples of real semiconductor industrial failures.