دانلود مقاله ISI انگلیسی شماره 115477
ترجمه فارسی عنوان مقاله

تشخیص سریع پاسخ فرایند تک مرحله چند مرحله ای با قطعات غیر ایده آل سازگار با استفاده از سیستم اندازه گیری خودمراقبتی

عنوان انگلیسی
Rapid Response Diagnosis of Multi-stage Assembly Process with Compliant non-ideal Parts using Self-evolving Measurement System
کد مقاله سال انتشار تعداد صفحات مقاله انگلیسی
115477 2017 6 صفحه PDF
منبع

Publisher : Elsevier - Science Direct (الزویر - ساینس دایرکت)

Journal : Procedia CIRP, Volume 60, 2017, Pages 38-43

ترجمه کلمات کلیدی
سیستم سنجش خودمراقبتی، تشخیص سریع کنترل کیفیت بسته حلقه، شبیه سازی در حلقه، شاخص شباهت الگوی،
کلمات کلیدی انگلیسی
self-evolving measurement system; rapid diagnosis; closed-loop quality control; simulation-in-the-loop; pattern similarity index.;
ترجمه چکیده
این مقاله مفهوم جدیدی از سیستم سنجش خودآموزی را با هدف شناسایی و محلی سازی الگوهای نقص در سیستم های مونتاژ چند مرحله ای با قطعات غیر ایده آل مطرح می کند. این اجازه می دهد تا سطح تشخیص را افزایش دهد که نمی توان با استفاده از سیستم های اندازه گیری ثابت و ثابت از پیش تعیین شده به دست آورد. روش پیشنهادی به شناسایی و انتخاب نکات جدید اندازه گیری کمک می کند تا احتمال جداسازی علل ریشه ای نقص ها را افزایش دهد. این اتفاق می افتد به طور خودکار طبقه بندی الگوهای نقص و مرتبط با ویژگی های کنترل کلیدی بحرانی. این روش یکپارچه ابزار یادگیری ماشین تحت نظارت با شبیه سازی های مهندسی اولیه است. این بر اساس اصل شباهت الگوی، با توجه به داده های تولید شده توسط سیستم اندازه گیری خود در حال تکامل است. این روش با استفاده از نتایج سیستم مونتاژ درب خودرو نشان داده شده و معتبر است.
پیش نمایش مقاله
پیش نمایش مقاله  تشخیص سریع پاسخ فرایند تک مرحله چند مرحله ای با قطعات غیر ایده آل سازگار با استفاده از سیستم اندازه گیری خودمراقبتی

چکیده انگلیسی

This paper introduces the novel concept of self-evolving measurement system with the aim of rapidly identifying and localising defect patterns in multi-stage assembly systems with compliant non-ideal parts. This allows to enhance the level of diagnosability which cannot be achieved using fixed and static pre-determined measurement systems. The proposed methodology helps to identify and select new measurement points to increase the likelihood of isolating root causes of defects. This happens by automatically classifying defect patterns and associating them to critical key control characteristics. The methodology integrates supervised machine learning tools with first principle engineering simulations. It is based on the principle of pattern similarity, taking into account data generated by the self-evolving measurement system. The methodology is demonstrated and validated using the results of an automotive door assembly system.